COULOSCOPE CMS2 和 CMS2 STEP：這兩款庫(kù)倫法測(cè)厚儀為臺(tái)式儀器，用于涂層厚度和電化學(xué)電位測(cè)量。當(dāng)涂層厚度超過一定范圍，X 射線熒光法進(jìn)行無損測(cè)量達(dá)到極限的時(shí)，COULOSCOPE® CMS2 可發(fā)揮作用，通過電解層剝離精確可靠地測(cè)量幾乎所有金屬涂層的厚度。該儀器操作簡(jiǎn)便，具有廣泛的適用性，適用于多種涂層 - 基體組合。它還擁有近 100 種針對(duì)不同涂層系統(tǒng)（如鐵上鋅、黃銅上鎳等）的預(yù)定義測(cè)量任務(wù)，能實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。此外，COULOSCOPE® CMS2 STEP 除了能進(jìn)行庫(kù)倫法涂層厚度測(cè)量外，還可測(cè)量電化學(xué)電位。例如在多層鎳涂層的質(zhì)量控制中，可同時(shí)測(cè)量電位差和層厚度，對(duì)于確定涂層的腐蝕行為等性能非常有幫助，適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控以及成品零件的來料檢驗(yàn)等場(chǎng)景。